半導(dǎo)體芯片的Bias-HAST測(cè)試偏壓老化

（高加速溫濕度偏壓壽命測(cè)試）是在標(biāo)準(zhǔn)HAST基礎(chǔ)上施加工作電壓或特定電偏置的加速可靠性試驗(yàn)，專門評(píng)估芯片在高溫、高濕、高壓且通電工作狀態(tài)下與電化學(xué)效應(yīng)相關(guān)的失效機(jī)制（如腐蝕、離子遷移）。

半導(dǎo)體芯片的Bias-HAST測(cè)試偏壓老化

HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

設(shè)備特點(diǎn)

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合國(guó)家安全容器規(guī)范；

多重保護(hù)功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)；

穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。

技術(shù)規(guī)格

型號(hào)		HAST-400
溫度范圍		+105℃~+150℃
主機(jī)尺寸		970MM*710MM*1700MM(W*D*H)
濕度范圍		65%~10  0%RH
壓力范圍		0.019~0.208MPA

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